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SEM分辨率检测标样

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用于SEM分辨率和像散的检测和调试。特别适合半导体行业中SEM的分辨率校正。

碳基底锡球的粒径范围为10nm-100nm

有柄狭缝铜网上碳基底锡球的粒径范围为3nm-60nm

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有柄狭缝铜网上碳基底锡球的粒径范围为3nm-60nm

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