在半导体失效分析的范畴里,FIB(聚焦离子束)设备是微观加工的“手术刀”,于材料科学领域也是如此,在生命科学领域同样是这般。 取样针
用于微纳操纵以及样品提取的关键部件,在聚焦离子束也就是FIB系统里的 Omniprobe FIB全钨取样针 ,它的性能可直接对TEM样品制备成败
在芯片失效分析的微观世界里头,或是前沿材料研究的显微层面区域,该如何把那个肉眼根本没法瞧见的“关键证据”,安全且精准地“捉拿
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