你还在为切割晶圆尺寸不合适、边缘崩裂而头疼吗？ 搞科研，忙着做那个样品制备，最害怕的就是，由于支架不匹配这种情况，造成珍贵的样品
如果你所拥有的样品，其尺寸已然超越了传统TEM支架所具备的极限，那么此时你究竟该运用怎样的方式，才能够获取到具备高质量的显微图像
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