那些从事科研工作的朋友都清楚，透射电镜也就是TEM的样品制备，是整个实验流程里的“限速步骤”，而单单是FIB也就是聚焦离子束的加工，
于材料科学跟纳米技术研究那些最为前沿之处，要得到一个能够供透射电镜也就是TEM去进行观察的、毫无瑕疵的薄片样品，常常是决定研究
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