在进行X射线显微分析这个操作的时候，你是不是一直都会被那种叫做“膜厚干扰”的情况，或者是“背景噪声”这种状况，弄得头疼到不行呢
纳米材料表征领域，半导体失效分析领域，冷冻电镜样品制备领域，存在一句内行人所共有的认知：“样品的背景信号，决定着实验数据的生死存
当你于电子显微镜之下对纳米材料展开观察时，最为不期望目睹的即为，背景噪音对样本信号予以干扰，又或者脆弱的样品于电子束之下出现
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