对那些从事透射电子显微镜，也就是TEM研究的科研人员来讲，氮化硅，即SiN窗口膜的保存始终是很让人头疼，堪称难题的事情。 因窗口膜破
在透射电镜所呈现的世界当中，样品下方存在着一片支持膜，这片支持膜薄得如同蝉翼一般，几乎达到了难以看见的程度，而这片支持膜常常对
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