于材料科学跟半导体失效分析的这个领域中，放大倍数精确与否，对研究结论起着决定性作用，关乎其成败存亡。 要是你的电镜，连那作为标
电子显微镜能谱分析，即EDS的结果，是否准确，有80%的相关问题，是出在了标样上头。 在材料分析实验室里，常常会运用的手段之中，TEM能谱分
于纳米尺度范围之内，晶面间距的测量精准程度会直接左右材料晶体结构解析的成功与否，然而标样的可靠性质态却是这所有一切得以成立
身为电镜工作者，我们常常被问的一个关键问题是，“我的电镜测出来的数据究竟准不准确？”，这和研究结论的可信度直接相关。 在透射电
在扫描电镜即SEM的平常使用期间，你有没有因为图像衬度出现异常、能谱定量存在偏差而感到困惑呢？ 当不同的操作者，调整出差异十分巨
于聚焦离子束，也就是FIB加工范畴，以及离子束溅射镀膜领域当中，标样的挑选，直接对工艺参数的可靠性起到了决定作用。 然而，市面上有大
在显微镜下，肉眼看到的“大小”往往只是虚像。 细胞直径，没有一把精准的“尺子”嵌入光路，测量是空谈。材料涂层厚度，没有一把精准
是什么导致，同样有着分划板标注的显微镜，在测量数据方面，总是出现差之毫厘、谬以千里的状况呢？这成为了众多实验室操作员，以及质检工
在电子显微分析这个领域当中，关于晶圆夹持的稳定性，它直接就对成像质量起着决定性作用，关乎成像质量到底是好是坏。 一次细微的样
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