【FIB探针定义】
聚焦离子束（FIB）探针是一种基于高能离子束聚焦技术的精密仪器，通过电透镜将液态金属离子源（如镓）聚焦成纳米级离子束，实现对材料表面原子的精准溅射、刻蚀及沉积。其核心功能包括高分辨率成像、纳米加工及样品制备，常与扫描电镜（SEM）联用构成双束系统（FIB-SEM）。
【FIB探针核心作用】
纳米级加工与结构制备：通过离子束溅射剥离或沉积材料，可制作纳米孔阵列、微流体通道等微纳结构，支持芯片电路修改与局部修复。
样品剖面分析与缺陷定位：精准制备横截面以观测材料内部结构，用于芯片失效分析、材质缺陷检测。
透射电镜（TEM）制样：从特定区域制备超薄样品（＜100nm），满足高分辨率电子显微观察需求。
化学诱导沉积与电路功能修正：结合气体注入系统，选择性沉积Pt、W等材料以修复或修改电路。
多模态联用分析：与SEM、探针台等设备协同，实现形貌成像、电信号测试及三维重构等综合表征。
FIB探针凭借亚微米级精度，广泛应用于半导体检测、纳米器件研发及生物材料分析领域
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