碳基底锡球校正标样

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碳基底锡球校正标样主要用于SEM和LM250-5,000x倍下的分辨率检测工作,也适合检测和校正成像质量(畸变、像散、对比度、亮度等)。同时,也可比较获得探针尺寸。

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